- 名称
放大镜
- 要素
0|2|通过放大倍数来检验端子的同心度|用相机放大倍数投影产品图片|没有品牌|HDC313P|||
- 名称
电子背散射衍射仪
- 要素
4|3|分析各种材料的晶体结构、取向和织构信息|电子束轰击样品时,背散射电子在样品表面晶体结构内产生衍射花样,通过探测器采集该衍射花样信息,传送给图象处理器进行解析,测量并统计样品的晶体结构信息|Oxford Instruments/无中文名称|C-Nano+
- 名称
环境球差校正电镜
- 要素
4|3|观察生物和材料样品的超微结构|电子束照射在样品上,经过物镜放大成像|日立|HF5000
- 名称
电子显微镜 (旧)
- 要素
4|3|观察固体材料的表面形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察|Digital Instruments Inc.|3000-1-NTSC|||已使用7年,还可使用23年,残值率10%,原值15180人民币,2016年
- 名称
电子显微镜
- 要素
1|2|用于观察细微粒子活动轨迹|根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜,使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器|晨曦|CX-H5000
- 名称
透射电子显微镜(旧)
- 要素
4|3|纳米材料大小及形貌观测|见备注|日本电子,JEOL|JEM2100|||已使用16年,还可使用4年,残值率10%,原值35万美金,2008年制造
- 名称
200KV高分辨场发射透射电子显微镜
- 要素
4|3|用于观察样品的超细微结构及表面形貌|由电子枪发射出的电子束透过样品后携带有样品内部的结构信息,经过透镜和物镜综合放大成像,从而进行样品的观察与分析|thermoscientific /无中文名称|Talos F200X G2
- 名称
数码体视显微镜
- 要素
0|0|用于微观检查零件质量,测量焊缝的熔深、熔宽|对物体成象后的两光束被两组中间物镜分开,并组成一定的角度称为体视角一般为12度至15度,再经各自的目镜成像,利用双通道光路,为左右两眼提供一个具有立体感的图像|无中文名称品牌/无外文名称品牌|SMZ171TLED/S6
- 名称
原位透射电子显微镜
- 要素
4|3|用于实验室内将0.1~0.2nm的样品放大几万~百万倍,研究金属、氧化物及其他材料的内部结构和晶体缺陷时观察样品的精细结构|见备注|thermoscientific(英文)|Talos F200X G2
- 名称
电子显微镜
- 要素
0|0|通过利用二次电子显微镜观察压痕直径|通过电子信号成像来观察样品表面形态|无品牌|TOPSCAN
- 名称
场发射扫描电子显微镜
- 要素
4|3|用于对材料的形貌表征进行观察|电子束经扫描线圈照射于样品后获取表面形貌|TESCAN|MAGNA
- 名称
热场发射扫描电镜
- 要素
4|3|进行样品表面微观形态的观测及样品成分分析。|通过透镜系统控制电子束汇集成很小的束斑照射并透过样品,利用光阑和二次电子探头,及背散射探头接收样品表面发射的不同的信号,获得样品原子级微观形貌,通过样品舱相机将样品微观形貌传输出来。|JEOL/日本电子|JSM-IT800
- 名称
场发射扫描电子显微镜
- 要素
4|3|对各类材料进行形貌观察、微区化学成分分析等|利用电子枪发射电子束,电子束经聚焦后在样品表面扫描,激发样品产生各种物理信号,信号经过检测、视频放大和信号处理,在荧光屏上显示出能反映样品表面各种特征的扫描图像|Carl Zeiss|Sigma 360
- 名称
扫描电化学显微镜
- 要素
4|3|检测样品表面的电化学活性分布,凹凸地形形貌、不同位置的电流信息以及电导率分布等|通过控制微电极的位置和电位,测量样品表面的电化学反应,从而获得样品表面的电化学信息|Bio-Logic/无中文名称|M470
- 名称
扫描式电子显微镜
- 要素
0|3|检测偏光板缺点|利用样品表面材料的物质性能微观成像|无品牌|SU-1500
- 名称
聚焦离子束扫描电子显微镜
- 要素
0|2|用于观察样品的表面及内部的形貌、结构|利用电磁透镜聚焦后所得的电子束和离子束对试样进行各种精确的定位观察|无中文品牌,无外文品牌|9955752
- 名称
扫描电子显微镜(旧)
- 要素
4|3|用来观察晶圆表面的微观形貌|扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察|Hitachi|S-8620|||1997年制造,已使用27年,还可以使用13年。新机价格10000美金
- 名称
桌面台式扫描电镜
- 要素
4|3|对纳米结构材料的观察和表征|以电子束作为光源,在加速电压的作用下经过三级电磁透镜并在扫描线圈的作用下,在试样表面做光栅状扫描从而产生各种同试样性质有关的物理信息|Coxem(英文)|EM-30
- 名称
扫描电镜
- 要素
4|3|对纳米结构材料的观察和表征||Zeiss(英文)蔡司(中文)|EVO10
- 名称
双束扫描电子显微镜
- 要素
4|3|用于实验室内对样品二维及三维的分析和表征(表面观察分析、截面加工及观察分析)|见备注|thermoscientific(英文)|Scios 2 HiVac
- 名称
数字切片扫描仪
- 要素
1|2|用于病理切片扫描阅片|扫描成像原理|NEXCOPE|NSS-6
- 名称
冷冻型场发射扫描电子显微系统
- 要素
4|3|用于实验室内对冶金、矿物、生物等各种材料的表征实验|见备注|Hitachi(英文)日立(中文)|SU8600
- 名称
扫描电子显微系统
- 要素
4|3|对纳米结构材料的观察和表征|以电子束作为光源,在加速电压的作用下经过三级电磁透镜并在扫描线圈的作用下,在试样表面做光栅状扫描从而产生各种同试样性质有关的物理信息|SEC(英文)赛可(中文)|SNE-4500M Plus
- 名称
四探针扫描隧道显微镜
- 要素
1|2|通用于超高真空扫描隧道显微镜|使用隧道效应扫描样品表面|HENGWEI|定制
- 名称
快速扫描原子力压电力显微镜
- 要素
4|3|对样品的表面形貌进行表征实验|通过原子与样品表面原子间存在极微弱的排斥力并在扫描时控制这种力的恒定再利用光学检测法进行检测|OXFORD INSTRUMENTS(英文)牛津仪器(中文)|Cypher ES
- 名称
多功能原子力显微镜
- 要素
4|3|对纳光微纳结构三维形貌测量和表面的高级物理量测量|见备注|Oxford Instruments(英文)牛津仪器(中文)|Cypher ES
- 名称
超高压扫描电子显微镜
- 要素
境外品牌(其他);;集成电路制造用;备注;AMAT;Verity5i
- 名称
旧扫描电镜
- 要素
4|3|用来观察物体表面的微观形貌|设备的灯丝发射电子束,聚焦的电子束射到被测物体表面,激发出二次电子,二次电子被探测器接收到,放大并成像,形成放大的图像,显示被测物体表面的微观形貌|品牌HITACHI|型号S-9380|无需报|无需报|无其他要素
- 名称
扫描电子显微镜(旧)
- 要素
4|3|观察固体材料的表面形貌|利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接收、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察|品牌HITACHI|型号S-5500|无GTIN|无CAS|无其他要素
- 名称
扫描电子显微镜(旧)
- 要素
4|3|半导体检测设备,用电子扫描晶圆表面,进行测量硅片晶圆上的线宽|通过场发射电子源对样品进行扫描,采集样品的二次电子后成像,通过对采集的图像进行量测采集数据|HITACHI|S-4700|无GTIN|无CAS|无其他必报要素